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ESD对电子设备造成的破坏

　　在静电危害的几种类型中，ESD损害尤为突出，其突出特点是随机性和不易察觉性。人没有感觉到放电就已造成了静电损伤而且不易被检测出来。

　　由静电击穿引起的元器件击穿损坏是电子工业中，特别是电子产品制造中最普遍、最严重的危害。静电放电可能造成器件硬击穿或软击穿。硬击穿是一次性造成器件的永久性失效，如器件的输出与输入开路或短路。所谓硬击穿是一次性造成芯片内热，二次击穿金属喷键，熔融介质，击穿表面等最终使集成电路彻底损坏、永久性失效。当静电放电能量达到一   6定值时，足以引起集成电路爆炸，使其芯片完全烧毁裸露，造成人身伤害，设备故障。硬击穿的特征明显，一般来说可以在器件组装件或插件板出厂交货之前检查出来，

　　软击穿则可使器件的性能劣化，并使其指标参数降低而造成故障隐患。由于软击穿可使   「电路时好时坏（指标参数降低所致），且不易被发现，给整机运行和查找故障造成很大困难。软击穿时设备仍能带“病”工作，性能未发生根本变化，很可能通过出厂检验，但随时可能造成再次失效。多次软击穿就能造成硬击穿，使设备运行不正常。